DRAM, NAND Flash등 반도체 메모리를 검사하는 장비입니다.
효율적인 자원관리와 고속의 데이터 처리로 최적화된 환경으로 반도체 메모리를 검사할 수 있습니다.
DRAM, NAND Flash 등 반도체 메모리를 익숙한 사용자 환경에서 분석하고 특성을 평가하는 제품입니다.
독립적인 환경에서 반도체를 테스트하고 고속으로 결과데이터를 분석할 수 있어서 R&D에 사용하기 좋은 최적의 솔루션입니다.
테스트 시스템에서 제공하는 자원을 차세대 반도체 메모리를 테스트할 수 있도록 성능을 향상시키는 솔루션을 제공합니다.
테스트 시스템 전원공급장치의 전압 또는 전류 범위를 확장하거나, 채널 수를 늘려주는 솔루션입니다.
전원공급장치의 공급전류 범위를 확장하고 소비전류 측정이 가능하며, 부하변동에 대한 전원의 응답특성을 개선할 수 있습니다.